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循环移位网络模块（模块名：VAL_CS_PROC），对输入数据（in_data）做循环移位处理，两个cycle即可输出数据。

Fig 1 循环移位模块顶层

1. 1. 设计要求
00】支持对data_num个有效数据做循环移位处理，每个数据位宽为10bit（1<=data_num<=384）；移位值shift_val满足0<=shift_val<=data_num，shift_val表示循环移位的数据个数（每个数据10bit）。
01】输入和输出数据位宽为384*10bit，当有效数据个数data_num小于等于192时，输入数据中包含2组data_num个数据，支持同时对2组data_num个数据做循环移位处理，且两组处理相互独立，可以不同步。
02】有效数据个数data_num大于192时，data_num个有效数据放在输入输出数据的低位（[data_num*10-1 : 0]）；有效数据个数data_num小于等于192时，有效数据分别在2组数据的低位（[data_num*10-1 : 0]和[data_num *10+1920-1 : 1920]）。
03】支持根据输入指示信号判断数据左移或是右移。
04】移位值、有效数据个数、移位方向以in_vld为随路有效信号，in_vld为1表示参数有效，输入数据固定在参数下一拍到来。
05】支持输出循环移位后数据以out_vld作为随路有效信号，out_vld为1表示数据有效，data_num大于192时，两组out_vld同时拉高表示数据有效。
06】输出时，无效位需要全部为零。
1. 1. 整体架构

Fig 2 循环移位网络模块架构框图

Table 1 端口信号表

端口	方向	位宽/bit	说明
rst_n	输入	1	复位信号，低有效
clk	输入	1	输入时钟
in_vld_0	输入	1	第一组输入参数随路有效指示
in_vld_1	输入	1	第二组输入参数随路有效指示
data_num_0[8:0]	输入	9	第一组有效数据个数，in_vld_0=1时有效
data_num_1[8:0]	输入	9	第二组有效数据个数，in_vld_1=1时有效
val_r_l_ind_0	输入	1	第一组左移右移指示，为1时表示左移（即向高位移位），为0时表示右移（即向低位移位），in_vld_0=1时有效
val_r_l_ind_1	输入	1	第二组左移右移指示，为1时表示左移（即向高位移位），为0时表示右移（即向低位移位），in_vld_1=1时有效
shift_value_0[8:0]	输入	9	第一组循环移位数据个数
shift_value_1 [8:0]	输入	9	第二组循环移位数据个数
in_data[384*10-1:0]	输入	3840	输入数据，in_vld下一拍有效
out_vld_0	输出	1	第一组输出数据随路有效指示，
out_vld_1	输出	1	第二组输出数据随路有效指示
out_data[384*10-1:0]	输出	3840	输出数据，out_vld当拍有效

由Fig3可见，框图中参与移位的输入信号都是寄存后使用。

Fig 3 寄存时序图

Fig 4可以得到（in_vld 到 out_vld，含regin/regout）性能为2 cycle。

Fig 4 输出时序图

这个架构实现了高效的对数移位结构，通过多级移位器实现任意位移量，同时保持O(log n)的时间复杂度。参数化设计使其能适应不同数据规模和位宽需求。

Fig 5 barrel_shifter架构图

Table 2 功能仿真测试表

测试案例	方案描述	是否通过
TEST1	data_num = 8，数据通道0，左移2位	通过
TEST2	data_num = 8，数据通道0，右移2位	通过
TEST3	data_num = 8，数据通道1，左移2位	通过
TEST4	data_num = 8，数据通道1，右移2位	通过
TEST5	data_num = 8，数据通道0和1同时独立输入，通道0：右移3位，通道1：左移2位	通过
TEST6	data_num = 200，数据通道1,2约束一致，左移50位	通过
TEST7	边界测试：data_num = 1，数据通道1，左移2位	通过

Table 3 180nm工艺库PPA测试表

类别	Ax(um^2)	数据延迟
最小面积	6083924.000000	2 cycle